集束微电极腐蚀电化学测量方法与装置
专利权的终止未缴年费专利权终止
摘要
本发明涉及一种测量腐蚀样品表面电位分布与电流分布的电化学方法及装置。采用集束微电极，同时在集束微电极的不同位置上采集测量数据，大大缩短了测量时间，并实现了计算机控制和计算，可全面、清楚地了解腐蚀样品表面的腐蚀发展瞬态过程。
基本信息
专利标题 ：
集束微电极腐蚀电化学测量方法与装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN1046042A
申请号 ：
CN89101808.5
公开（公告）日 ：
1990-10-10
申请日 ：
1989-04-01
授权号 ：
CN1015742B
授权日 ：
1992-03-04
发明人 ：
于朴王旷张文奇
申请人 ：
北京科技大学
申请人地址 ：
北京市学院路30号
代理机构 ：
北京科技大学专利代理事务所
代理人 ：
杨珍莉
优先权 ：
CN89101808.5
主分类号 ：
G01N27/416
IPC分类号 ：
G01N27/416
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N27/18
••••由于被试环境物质的热传导变化引起的电阻
G01N27/26
通过测试电化学变量；用电解或电泳法
G01N27/416
系统
法律状态
1994-02-09 ：
专利权的终止未缴年费专利权终止
1992-10-28 ：
授权
1992-03-04 ：
审定
1990-10-10 ：
公开
1990-08-22 ：
实质审查请求
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
1、
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