多功能集成电路测量仪
专利申请的驳回
摘要
多功能集成电路测量仪由脉冲发生器、脉冲发生器供压、显示器、显示器供压等部分组成。测量时采用分端子测量、分端子显示的测量方式，对所测的集成电路不受模拟集成电路、数字集成电路的集成规模、集成方式、电路完成的工作目的限制，可完成对各种集成电路一次性测量好坏的工作目的。
基本信息
专利标题 ：
多功能集成电路测量仪
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN1067745A
申请号 ：
CN91103792.6
公开（公告）日 ：
1993-01-06
申请日 ：
1991-06-12
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
王文顺
申请人 ：
王文顺
申请人地址 ：
152205黑龙江省绥棱林业局红星街259号
代理机构 ：
代理人 ：
优先权 ：
CN91103792.6
主分类号 ：
G01R31/26
IPC分类号 ：
G01R31/26 G01R31/28
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/26
•单个半导体器件的测试
法律状态
1997-05-21 ：
专利申请的驳回
1994-01-12 ：
实质审查请求的生效
1993-01-06 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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