介质表面氡析出率直接测量仪
专利权的终止未缴年费专利权终止
摘要
一种介质表面氡析出率测量仪，分探头和测量装置两部份。前者包括积累箱、探测器、前置放大器和甄别成型电路，后者由接口电路、计算机、打印机和高压电源组成。这种测量仪可用来直接测量介质表面析出的氡。本发明的特征在于探头中的氡积累箱为双层，而且又是同轴套装，克服了单层积累箱由于换气或与外界泄漏，致使测量结果不准的缺陷。
基本信息
专利标题 ：
介质表面氡析出率直接测量仪
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN1071260A
申请号 ：
CN91109913.1
公开（公告）日 ：
1993-04-21
申请日 ：
1991-10-09
授权号 ：
CN1029532C
授权日 ：
1995-08-16
发明人 ：
王福田王恒德代忠德苏宝恒赵效功
申请人 ：
中国辐射防护研究院
申请人地址 ：
030006山西省太原市坞城路学府街30号
代理机构 ：
太原专利事务所
代理人 ：
李富元
优先权 ：
CN91109913.1
主分类号 ：
G01T1/169
IPC分类号 ：
G01T1/169 G01T1/167
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01T
核辐射或X射线辐射的测量
G01T1/00
X射线辐射、γ射线辐射、微粒子辐射或宇宙线辐射的测量
G01T1/16
辐射强度测量
G01T1/169
污染的表面面积的探查和定位
法律状态
1997-11-26 ：
专利权的终止未缴年费专利权终止
1995-08-16 ：
授权
1993-09-08 ：
实质审查请求的生效
1993-04-21 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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