料面位置或高度的测量方法及装置
专利权的终止未缴年费专利权终止
摘要
本发明涉及一种用γ射线测定液面或粉、粒状物料料面位置的装置及测定方法。本发明的方法是检测背散射γ计数率，将γ计数率转变为电信号，并用此信号与预先设定的信号值比较。当所述电信号与预定信号值不等时，控制电动机正转或反转，带动测量机构沿物料面高度方向运动；当所述电信号与预定信号值相等时控制电动机停止运动，使测量机构显示出物料面位置。本发明的装置用于实现本发明公开的方法。
基本信息
专利标题 ：
料面位置或高度的测量方法及装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN1094512A
申请号 ：
CN93104757.9
公开（公告）日 ：
1994-11-02
申请日 ：
1993-04-22
授权号 ：
CN1060269C
授权日 ：
2001-01-03
发明人 ：
刘正民刘兆远陈子纯杨坤山陈熙萌蔡晓红
申请人 ：
兰州大学
申请人地址 ：
730000甘肃省兰州市天水路
代理机构 ：
兰州大学专利事务所
代理人 ：
张晋
优先权 ：
CN93104757.9
主分类号 ：
G01F23/288
IPC分类号 ：
G01F23/288
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01F
容积、流量、质量流量或液位的测量；按容积进行测量
G01F23/00
液体液面或流动的固态材料料面的指示或测量，例如，用容积指示，应用报警装置的指示
G01F23/22
通过测量除线性尺寸、压力或重量以外的其他与被测液面有关的物理变量，例如，通过测量蒸汽或水传热的差异
G01F23/28
通过测量直接施加到液体或流动的固态材料上的电磁波或声波参数的变化
G01F23/284
电磁波
G01F23/288
X射线；γ射线
法律状态
2002-06-19 ：
专利权的终止未缴年费专利权终止
2001-01-03 ：
授权
1994-12-14 ：
实质审查请求的生效
1994-11-02 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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