微波高度测量方法和装置
专利权的终止未缴年费专利权终止
摘要
材料高度的微波测量。发送装置产生出具有对应于待测距离之频率的测量信号。和具有对应已知长度之频率的基准信号。用一与该距高的假设值和已知长度有关的数乘基准信号，并用一固定数除之。以使该信号的频率等于测量信号的期望频率。把产生的控制信号同该测量信号相混合，测量相位差，并计算相继的取样间隔中的相位差变化，以确定假设距离的修正项。
基本信息
专利标题 ：
微波高度测量方法和装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN85104668A
申请号 ：
CN85104668.1
公开（公告）日 ：
1986-12-24
申请日 ：
1985-06-18
授权号 ：
CN85104668B
授权日 ：
1988-07-27
发明人 ：
科特·奥洛夫·艾德瓦德森
申请人 ：
塞伯海洋电气公司
申请人地址 ：
51.邮政信箱号13045
代理机构 ：
中国国际贸易促进委员会专利代理部
代理人 ：
李强
优先权 ：
CN85104668.1
主分类号 ：
G01S9/24
IPC分类号 ：
G01S9/24 G01S13/34
法律状态
1999-08-18 ：
专利权的终止未缴年费专利权终止
1989-03-15 ：
授权
1988-07-27 ：
审定
1986-12-24 ：
公开
1986-09-03 ：
实质审查请求
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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