多点检查装置
专利权的终止
摘要
本发明涉及一种用于对存储在存储单元(300)的样本舱(303)中的样本材料进行检查的方法和装置。多点生成器MSG(100)和传输部分(200)在样本舱内产生样本光点(501)阵列。将在前向方向上离开存储单元(300)的输入光(504)映射到CCD阵列(401)上，并且对其进行测量以作为参考。此外，通过垂直于输入光(504)光路安置的第二个CCD阵列对样本舱(303)中激发的荧光(500)进行测量。
基本信息
专利标题 ：
多点检查装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN101080627A
申请号 ：
CN200580043317.2
公开（公告）日 ：
2007-11-28
申请日 ：
2005-12-13
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
D·J·W·克隆德M·范赫佩恩M·巴利斯特雷里M·普林斯
申请人 ：
皇家飞利浦电子股份有限公司
申请人地址 ：
荷兰艾恩德霍芬
代理机构 ：
永新专利商标代理有限公司
代理人 ：
王英
优先权 ：
CN200580043317.2
主分类号 ：
G01N21/64
IPC分类号 ：
G01N21/64 B01J19/00 C12Q1/68 G01N21/55
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/62
所测试的材料在其中被激发，因之引起材料发光或入射光的波长发生变化的系统
G01N21/63
光学激发的
G01N21/64
荧光；磷光
法律状态
2014-02-12 ：
专利权的终止
未缴年费专利权终止号牌文件类型代码 : 1605
号牌文件序号 : 101570139419
IPC(主分类) : G01N 21/64
专利号 : ZL2005800433172
申请日 : 20051213
授权公告日 : 20100623
终止日期 : 20121213
号牌文件序号 : 101570139419
IPC(主分类) : G01N 21/64
专利号 : ZL2005800433172
申请日 : 20051213
授权公告日 : 20100623
终止日期 : 20121213
2010-06-23 ：
授权
2008-02-13 ：
实质审查的生效
2007-11-28 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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