用于使刷新操作对易失性存储器性能的影响最小化的方法及系统
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摘要

本发明提供一种存储器系统。所述系统包括:易失性存储器;刷新计数器,其经配置以监测在所述易失性存储器内执行的提前刷新的次数;及控制器,其经配置以响应于检测到对定期安排的刷新的请求而检查所述刷新计数器,以确定是否可跳过所述定期安排的刷新。

基本信息
专利标题 :
用于使刷新操作对易失性存储器性能的影响最小化的方法及系统
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN101103415A
申请号 :
CN200580046891.3
公开(公告)日 :
2008-01-09
申请日 :
2005-11-22
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
罗伯特·迈克尔·沃克
申请人 :
高通股份有限公司
申请人地址 :
美国加利福尼亚州
代理机构 :
北京律盟知识产权代理有限责任公司
代理人 :
王允方
优先权 :
CN200580046891.3
主分类号 :
G11C11/406
IPC分类号 :
G11C11/406  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G11
信息存储
G11C
静态存储器
G11C11/08
应用多孔存储元件的,例如:应用多孔磁芯存储器;应用把几个单独的多孔存储元件合并起来的板
G11C11/21
应用电元件的
G11C11/34
应用半导体器件的
G11C11/40
应用晶体管的
G11C11/401
形成需要刷新或电荷再生的单元的,即,动态单元的
G11C11/406
刷新或电荷再生周期的管理或控制
法律状态
2012-12-12 :
授权
2008-02-27 :
实质审查的生效
2008-01-09 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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