半导体集成电路

发明专利申请公布后的视为撤回

摘要

一种半导体集成电路，可不考虑LSI的逻辑电路之结构地进行外部端子的直流测试。为此，在连接到外部输入端子(11)的输入缓冲器(14)的输出端设置输入侧选择器(15)，并且在驱动外部输出端子(12)的输出缓冲器(19)的输入端设置输出侧选择器(17)。当按模式信号(MOD)指定为正常动作模式时，输入侧选择器(15)和输出侧选择器(17)的端子A被选择，并连接到逻辑电路(16)。当按模式信号(MOD)指定为试验动作模式时，输入侧选择器(15)和输出侧选择器(17)的端子B被选择，将逻辑电路(16)分割开，并经由旁通电路(18)一对一地连接输入缓冲器(14)和输出缓冲器(19)。

基本信息

专利标题：

半导体集成电路

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

CN1866045A

申请号：

CN200610002448.2

公开（公告）日：

2006-11-22

申请日：

2006-01-26

授权号：

暂无

授权日：

暂无

发明人：

照井健二

申请人：

冲电气工业株式会社

申请人地址：

日本东京

代理机构：

中国国际贸易促进委员会专利商标事务所

代理人：

曲瑞

优先权：

CN200610002448.2

主分类号：

G01R31/28

IPC分类号：

G01R31/28 G01R31/26