锰氧化物异质薄膜及其制备方法
专利权的终止
摘要

本发明公开了一种锰氧化物异质薄膜,包括硅单晶基片、铁薄膜和银电极,其特征在于:还包括La0.7Sr0.3MnO3薄膜,在边长为1~2mm硅单晶基片对称线位置是一层宽为0.8~1mm、长与硅单晶基片边长相等的铁薄膜,铁薄膜长边上的对称线与硅单晶基片对称线重合,在铁薄膜上面中心位置是0.5~1×0.5~1mm、厚度为30~50nm的La0.7Sr0.3MnO3薄膜,在La0.7Sr0.3MnO3薄膜上面是一层与底层铁薄膜位置垂直、大小薄厚相同的铁薄膜,在两层铁薄膜的两端是银电极。还公开了上述锰氧化物异质薄膜的制备方法,采用磁控溅射方法在硅单晶基片上依次溅射铁薄膜/La0.7Sr0.3MnO3薄膜/铁薄膜,使La0.7Sr0.3MnO3薄膜处于铁薄膜之间,利用隧道磁电阻的形式,使磁场灵敏度达到60%/T。

基本信息
专利标题 :
锰氧化物异质薄膜及其制备方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN1822408A
申请号 :
CN200610041607.X
公开(公告)日 :
2006-08-23
申请日 :
2006-01-06
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
金克新陈长乐赵省贵
申请人 :
西北工业大学
申请人地址 :
710072陕西省西安市友谊西路127号
代理机构 :
西北工业大学专利中心
代理人 :
黄毅新
优先权 :
CN200610041607.X
主分类号 :
H01L43/08
IPC分类号 :
H01L43/08  H01L43/12  C23C14/34  
法律状态
2012-03-14 :
专利权的终止
未缴年费专利权终止号牌文件类型代码 : 1605
号牌文件序号 : 101201709850
IPC(主分类) : H01L 43/08
专利号 : ZL200610041607X
申请日 : 20060106
授权公告日 : 20080521
终止日期 : 20110106
2008-05-21 :
授权
2006-10-18 :
实质审查的生效
2006-08-23 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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