半导体高低温实验仪
专利权的终止
摘要

本实用新型公开了一种半导体高低温实验仪,包括实验条件输入模块、控制系统、低温容器、高温容器、机械运动部件,还包括:分别同时与所述低温容器和所述高温容器粘连的半导体制冷片,所述半导体制冷片与功率控制器连接,所述功率控制器与控制系统相连。本实用新型的半导体高低温实验仪通过粘连半导体制冷片,实现了同时对低温容器的吸热和对高温容器的加热,既实现了对制冷和加热的统一操作和控制,也节约了制冷过程中的热能资源,由于无需使用单独的制冷设备和加热设备,使得该实验仪体积减小,且由于无需使用冷媒等化合物,因此不会对环境造成污染。

基本信息
专利标题 :
半导体高低温实验仪
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN200720195205.5
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2007-11-07
授权号 :
CN201107385Y
授权日 :
2008-08-27
发明人 :
黄硕
申请人 :
深圳市同洲电子股份有限公司
申请人地址 :
518057广东省深圳市南山区深南大道高新科技园W2-A7楼
代理机构 :
北京集佳知识产权代理有限公司
代理人 :
逯长明
优先权 :
CN200720195205.5
主分类号 :
G01R31/26
IPC分类号 :
G01R31/26  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/26
•单个半导体器件的测试
法律状态
2016-12-21 :
专利权的终止
未缴年费专利权终止号牌文件类型代码 : 1605
号牌文件序号 : 101693213995
IPC(主分类) : G01R 31/26
专利号 : ZL2007201952055
申请日 : 20071107
授权公告日 : 20080827
终止日期 : 20151107
2011-05-11 :
专利申请权、专利权的转移
专利权的转移号牌文件类型代码 : 1602
号牌文件序号 : 101085525359
IPC(主分类) : G01R 31/26
专利号 : ZL2007201952055
变更事项 : 专利权人
变更前权利人 : 深圳市同洲电子股份有限公司
变更后权利人 : 深圳市电明科技有限责任公司
变更事项 : 地址
变更前权利人 : 518057 广东省深圳市南山区深南大道高新科技园W2-A7楼
变更后权利人 : 518057 深圳市南山区科苑路第五工业区面粉公司大院内厂房1栋
登记生效日 : 20110330
2008-08-27 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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