丢失芯片的检测装置
专利权的终止
摘要

本实用新型涉及一种丢失芯片的检测装置,本实用新型包括拾片头座、管接头、焊臂、吸头和真空管路,所说吸头固定在拾片头座和焊臂上,密封圈设置于吸头和拾片头座之间的密封槽内,吸头中间具有气体通道,拾片头座有与吸头的气体通道相连的气孔,真空管路的管道通过管接头旋紧在拾片头座上,并与拾片头座的气孔相通,真空管路包括真空泵、流量传感器和电磁阀。采用本检测装置不再受透明或部分透明物体的光线干扰,提高了检测效果;在芯片的拾取位便可检测,减少了设备的空运行循环,提高了设备的运行效率。

基本信息
专利标题 :
丢失芯片的检测装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN200820078377.9
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2008-08-21
授权号 :
CN201259887Y
授权日 :
2009-06-17
发明人 :
佀海燕王海明徐品烈
申请人 :
中国电子科技集团公司第四十五研究所
申请人地址 :
065201河北省三河市燕郊经济开发区海油大街20号
代理机构 :
石家庄新世纪专利商标事务所有限公司
代理人 :
董金国
优先权 :
CN200820078377.9
主分类号 :
H01L21/50
IPC分类号 :
H01L21/50  H01L21/60  H01L21/66  H01L21/683  G01V9/00  
IPC结构图谱
H
H部——电学
H01
基本电气元件
H01L
半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21/00
专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21/02
半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21/04
至少具有一个跃变势垒或表面势垒的器件,例如PN结、耗尽层、载体集结层
H01L21/50
应用H01L21/06至H01L21/326中的任一小组都不包含的方法或设备组装半导体器件的
法律状态
2014-10-22 :
专利权的终止
未缴年费专利权终止号牌文件类型代码 : 1605
号牌文件序号 : 101587607958
IPC(主分类) : H01L 21/50
专利号 : ZL2008200783779
申请日 : 20080821
授权公告日 : 20090617
终止日期 : 20130821
2009-08-05 :
专利实施许可合同的备案
授权公告日 : 20090617
许可种类 : 独占许可
备案日期 : 2009.5.18
合同备案号 : 2009990000524
让与人 : 中国电子科技集团公司第四十五研究所
受让人 : 北京中电科电子装备有限公司
发明名称 : 丢失芯片的检测装置
申请日 : 20080821
合同履行期限 : 2008.10.10至2014.12.29合同变更
2009-06-17 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
暂无PDF文件可下载
  • 联系电话
    电话:023-6033-8768
    QQ:1493236332
  • 联系 Q Q
    电话:023-6033-8768
    QQ:1493236332
  • 关注微信
    电话:023-6033-8768
    QQ:1493236332
  • 收藏
    电话:023-6033-8768
    QQ:1493236332