校准方法和系统
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摘要
描述了一种用于关于相位特性和幅度特性中的至少一个来校准被测试设备的校准方法，其中提供了被测试设备。提供一种测量单元，其具有被配置为测量所述被测试设备的远场区域中的所述被测试设备的辐射功率的至少一个测量天线单元。同时接通具有操控相位和操控幅度中的至少一个的至少两个天线元件，使得生成的辐射方向图的峰值波束、零点或旁瓣被指向所述测量天线单元。在至少一个其他天线元件保持稳定的同时调整至少一个天线元件的相位或幅度。记录经调整的相位值或经调整的幅度值。保存对应于所述最高测量增益或最低测量增益的设置。针对至少一个其他天线元件重复调整和记录步骤，直到达到所述测量增益的阈值为止。
基本信息
专利标题 ：
校准方法和系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN109391335A
申请号 ：
CN201810848595.4
公开（公告）日 ：
2019-02-26
申请日 ：
2018-07-28
授权号 ：
CN109391335B
授权日 ：
2022-05-24
发明人 ：
科比特·罗威尔亚当·坦凯伦塞巴斯蒂安·施米茨安德里亚斯·莱希纳
申请人 ：
罗德施瓦兹两合股份有限公司
申请人地址 ：
德国慕尼黑
代理机构 ：
北京品源专利代理有限公司
代理人 ：
王小衡
优先权 ：
CN201810848595.4
主分类号 ：
H04B17/12
IPC分类号 ：
H04B17/12 H04B17/21
法律状态
2022-05-24 ：
授权
2020-08-25 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : H04B 17/12
申请日 : 20180728
申请日 : 20180728
2019-02-26 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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