氢检测用元件、氢检测用元件的制造方法以及氢检测装置
授权
摘要
本发明公开了一种氢检测用元件，将储氢金属以规定的形状以及大小配置于基材，基于由入射的光而感应的表面等离子共振对氢进行检测。储氢金属由包括钯与贵金属的膜体形成。通过了储氢的储氢金属的光的光谱在偏离于二氧化碳相对于光的吸收光谱(C1)与水相对于光的吸收光谱(H1～H3)的波长带宽具有峰。
基本信息
专利标题 ：
氢检测用元件、氢检测用元件的制造方法以及氢检测装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN110462380A
申请号 ：
CN201880021278.3
公开（公告）日 ：
2019-11-15
申请日 ：
2018-03-28
授权号 ：
CN110462380B
授权日 ：
2022-05-24
发明人 ：
西岛喜明岩井武平野勋
申请人 ：
国立大学法人横浜国立大学;东京应化工业株式会社
申请人地址 ：
日本国神奈川县
代理机构 ：
上海立群专利代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
杨楷
优先权 ：
CN201880021278.3
主分类号 ：
G01N21/41
IPC分类号 ：
G01N21/41
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/17
入射光根据所测试的材料性质而改变的系统
G01N21/41
折射率；影响相位的性质，例如光程长度
法律状态
2022-05-24 ：
授权
2019-12-10 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01N 21/41
申请日 : 20180328
申请日 : 20180328
2019-11-15 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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