一种基于压缩感知的频域多分辨率成像装置及方法
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摘要
本发明公开了一种基于压缩感知的频域多分辨率成像方法，包括如下步骤：S01：压缩感知矩阵模块产生图像感知矩阵，将其传输至图像采样模块进行图像采样；S02：压缩感知矩阵模块产生光谱感知矩阵，并将其传输至光谱采样模块进行光谱采样，得到各个采样像素点的光谱采样数据Sp；S03：基于各个采样像素点的光谱采样数据Sp进行光谱数据重建，得到对应采样像素点的光谱曲线Sp.r；S04：确定重建图像的光谱分辨率bm，并在各个采样像素点的光谱曲线中确定光谱分辨率bm下的光谱数据Sp.r(bm)，基于光谱数据Sp.r(bm)重建得到光谱图像I(S(bm))。本发明提出了图像稀疏采样结合光谱稀疏采样的双重稀疏采样方案，显著缩短数据采样时间。
基本信息
专利标题 ：
一种基于压缩感知的频域多分辨率成像装置及方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN110441264A
申请号 ：
CN201910661331.2
公开（公告）日 ：
2019-11-12
申请日 ：
2019-07-22
授权号 ：
CN110441264B
授权日 ：
2022-04-01
发明人 ：
周涛李琛王鹏飞余学儒王修翠
申请人 ：
上海集成电路研发中心有限公司
申请人地址 ：
上海市浦东新区张江高斯路497号
代理机构 ：
上海天辰知识产权代理事务所(特殊普通合伙)
代理人 ：
吴世华
优先权 ：
CN201910661331.2
主分类号 ：
G01N21/45
IPC分类号 ：
G01N21/45
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/17
入射光根据所测试的材料性质而改变的系统
G01N21/41
折射率；影响相位的性质，例如光程长度
G01N21/45
利用干涉量度法，利用纹影方法
法律状态
2022-04-01 ：
授权
2019-12-06 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01N 21/45
申请日 : 20190722
申请日 : 20190722
2019-11-12 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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