一种可变焦的深度测量装置及测量方法
授权
摘要
本发明公开了一种可变焦的深度测量装置及测量方法,包括发射单元、接收单元、以及与发射单元和接收单元连接的控制与处理电路;其中,发射单元包括有光源和光学元件;接收单元包括有TOF图像传感器和变焦透镜;TOF图像传感器被配置成采集目标区域反射回的至少部分光束并形成电信号;变焦透镜被配置为将反射光束投射到TOF图像传感器的像素中,通过改变变焦透镜的焦距而改变TOF图像传感器采集反射光束的视场角;控制与处理电路根据电信号计算目标区域的深度图像。通过设置变焦透镜,可实时调控TOF图像传感器采集反射光束的视场角,进一步改变了接收反射光束的光强度或光子数量,提高测量装置的测量精度。
基本信息
专利标题 :
一种可变焦的深度测量装置及测量方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN111025321A
申请号 :
CN201911385290.5
公开(公告)日 :
2020-04-17
申请日 :
2019-12-28
授权号 :
CN111025321B
授权日 :
2022-05-27
发明人 :
王兆民
申请人 :
深圳奥比中光科技有限公司
申请人地址 :
广东省深圳市南山区粤海街道学府路63号高新区联合总部大厦11-13楼
代理机构 :
深圳汉世知识产权代理事务所(特殊普通合伙)
代理人 :
田志立
优先权 :
CN201911385290.5
主分类号 :
G01S17/36
IPC分类号 :
G01S17/36 G01S17/89 G01S7/481
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01S
无线电定向;无线电导航;采用无线电波测距或测速;采用无线电波的反射或再辐射的定位或存在检测;采用其他波的类似装置
G01S17/00
应用除无线电波外的电磁波的反射或再辐射系统,例如,激光雷达系统
G01S17/02
应用除无线电波外的电磁波反射的系统
G01S17/06
测定目标位置数据的系统
G01S17/08
只用于测量距离
G01S17/10
应用断续的脉冲调制波的发射
G01S17/36
在接收信号与同时发射信号之间作相位比较
法律状态
2022-05-27 :
授权
2021-02-26 :
著录事项变更
IPC(主分类) : G01S 17/36
变更事项 : 申请人
变更前 : 深圳奥比中光科技有限公司
变更后 : 奥比中光科技集团股份有限公司
变更事项 : 地址
变更前 : 518000 广东省深圳市南山区粤海街道学府路63号高新区联合总部大厦11-13楼
变更后 : 518000 广东省深圳市南山区粤海街道学府路63号高新区联合总部大厦11-13楼
变更事项 : 申请人
变更前 : 深圳奥比中光科技有限公司
变更后 : 奥比中光科技集团股份有限公司
变更事项 : 地址
变更前 : 518000 广东省深圳市南山区粤海街道学府路63号高新区联合总部大厦11-13楼
变更后 : 518000 广东省深圳市南山区粤海街道学府路63号高新区联合总部大厦11-13楼
2020-06-16 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01S 17/36
申请日 : 20191228
申请日 : 20191228
2020-04-17 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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