一种MCU芯片单线烧录和测试方法

授权

摘要

本发明涉及MCU芯片烧录和测试技术领域，尤其涉及一种MCU芯片单线烧录和测试方法，具体为：MCU芯片外部只有一个数据脚位SDA用于烧录，SCK信号由MCU芯片内部振荡器产生，根据芯片内部固定频率，SDA输入一个时间间隔相等的高电平或者低电平信号，若默认SDA输入信号为高电平信号，如果一直到MCU预热结束SDA输入信号都为高电平或者SDA没有输入正确的模式代码，则MCU预热完成进入工作模式，否则进入相应烧录或者测试模式，进入相应模式后，内部状态机根据内部时钟输入不同的指令切换状态，即可完成MCU烧录或测试；本发明利用MCU芯片的一个PIN脚就可实现MCU烧录和测试，增加了MCU芯片的市场竞争力。

基本信息

专利标题：

一种MCU芯片单线烧录和测试方法

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

CN111142890A

申请号：

CN201911395878.9

公开（公告）日：

2020-05-12

申请日：

2019-12-30

授权号：

CN111142890B

授权日：

2022-04-05

发明人：

方马龙

申请人：

无锡矽杰微电子有限公司

申请人地址：

江苏省无锡市滨湖区建筑西路777号A1幢9层

代理机构：

无锡市汇诚永信专利代理事务所(普通合伙)

代理人：

朱晓林

优先权：

CN201911395878.9

主分类号：

G06F8/61

IPC分类号：

G06F8/61 G06F11/22