一种芯片的烧录测试治具

授权

摘要

本申请公开一种芯片的烧录测试治具，测试治具包括：测试盒，测试盒的第一表面设置有芯片的放置区域，放置区域形成有多个测试孔；测试探头，设置于测试盒的内部，可由测试孔伸出，以接触位于放置区域的芯片；烧录架，设置在测试盒的第一表面；烧录探头，对应放置区域活动设置于烧录架，相对烧录架活动靠近测试盒的第一表面，以接触位于放置区域的芯片。可先控制烧录探头靠近测试盒的第一表面，以接触放置区域的芯片，对芯片进行烧录，在烧录完成后，控制测试探头从测试孔伸出，以接触位于放置区域的芯片，对芯片进行功能测试，调试下载后的程序，从而在一个治具上即可实现烧录和测试过程，工作效率高。

基本信息

专利标题：

一种芯片的烧录测试治具

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN201922335435.2

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2019-12-23

授权号：

CN211698069U

授权日：

2020-10-16

发明人：

郭森王炼谭骥冯志强

申请人：

深圳市韶音科技有限公司

申请人地址：

广东省深圳市宝安区石岩街道浪心社区石新社区山城工业区26栋厂房一层至四层

代理机构：

深圳市威世博知识产权代理事务所(普通合伙)

代理人：

瞿璨

优先权：

CN201922335435.2

主分类号：

G01R31/28

IPC分类号：

G01R31/28 G01R1/04