一种便于测试硅单晶参数的工装设备
授权
摘要
本实用新型提供一种便于测试硅单晶参数的工装设备，包括基座、承托板、底板和至少一组限位组件，底板设于基座上，底板与承托板转动连接，限位组件设于承托板上，且限位组件与承托板可相对转动，承托板与底板平行设置。本实用新型的有益效果是结构简单，加工成本低，具有可以相对转动的承托板和底板，使得硅单晶能够沿着竖直轴转动，具有至少两个限位件，对硅单晶进行支撑，同时使得硅单晶能够沿着水平轴线自由转动，减轻现场工人劳动力度，操作简单，减少工时浪费，提高了员工工作效率。
基本信息
专利标题 ：
一种便于测试硅单晶参数的工装设备
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201920952103.6
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-06-24
授权号 ：
CN210639241U
授权日 ：
2020-05-29
发明人 ：
梁宇飞张红霞李耀龙栗钢刘效斐丁亚青菅源靳小龙
申请人 ：
内蒙古中环光伏材料有限公司
申请人地址 ：
内蒙古自治区呼和浩特市赛罕区宝力尔街15号
代理机构 ：
天津诺德知识产权代理事务所(特殊普通合伙)
代理人 ：
栾志超
优先权 ：
CN201920952103.6
主分类号 ：
G01R31/26
IPC分类号 ：
G01R31/26 G01R1/04
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/26
•单个半导体器件的测试
法律状态
2020-05-29 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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