一种小卫星星上设备高精度姿态测量系统
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摘要

一种小卫星星上设备高精度姿态测量系统,利用控制终端确定转台转角并改变转台位置,确定电子经纬仪在升降支架上的竖直高度H,电子经纬仪的水平驱动角和垂直驱动角,并利用升降支架改变电子经纬仪的位置,完成粗定位工作;在粗定位工作的基础上利用CCD相机完成精确准直工作,获取立方棱镜两个端面的法向矢量,最终确定星上设备的姿态测量值。本实用新型针对多级硬件系统坐标矩阵转换带来的系统累计误差问题,进行了系统硬件构建优化,以及算法的优化改进,提高了航天器设备姿态测量的测量精度和测量稳定性,还大幅提高了测量效率,降低了测量人力成本,减轻了测量技术人员的劳动强度。

基本信息
专利标题 :
一种小卫星星上设备高精度姿态测量系统
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201920996363.3
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-06-28
授权号 :
CN210293237U
授权日 :
2020-04-10
发明人 :
李帅杨海龙王凤彬张名毅梁小峰沈群
申请人 :
航天东方红卫星有限公司
申请人地址 :
北京市海淀区北京5616信箱
代理机构 :
中国航天科技专利中心
代理人 :
茹阿昌
优先权 :
CN201920996363.3
主分类号 :
G01C21/24
IPC分类号 :
G01C21/24  G01C1/04  G01C11/00  F16M11/42  F16M11/08  F16M11/18  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01C
测量距离、水准或者方位;勘测;导航;陀螺仪;摄影测量学或视频测量学
G01C21/00
导航;不包含在G01C1/001至G01C19/00组中的导航仪器
G01C21/24
专用于宇宙航行的导航
法律状态
2020-04-10 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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