测量激光器芯片频率响应的装置

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摘要

本实用新型提出测量激光器芯片频率响应的装置，用于测试激光器芯片样品的频率响应，所述装置包括网络分析仪、电源、光电探测器、测试台；所述测试台处设有探针和耦合光纤；所述网络分析仪经探针与测试台处的芯片样品相接以向芯片样品输出测试信号并对芯片样品供电；所述光电探测器经耦合光纤接收芯片样品的输出光信号并将其转换为电信号；所述网络分析仪与光电探测器相通以接收转换后的电信号并形成频率响应曲线；本实用新型能对激光器芯片样品进行测试。

基本信息

专利标题：

测量激光器芯片频率响应的装置

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN201921353269.2

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2019-08-20

授权号：

CN211263684U

授权日：

2020-08-14

发明人：

杨重英苏辉薛正群吴林福生

申请人：

福州中科光芯科技有限公司

申请人地址：

福建省福州市鼓楼区软件大道89号福州软件园E区14号楼4层

代理机构：

福州元创专利商标代理有限公司

代理人：

郭东亮

优先权：

CN201921353269.2

主分类号：

G01R31/26

IPC分类号：

G01R31/26 G01R31/28 G01M11/00 H01S5/00