一种烟雾探测芯片测试系统
授权
摘要
本实用新型涉及一种烟雾探测芯片测试系统，包括用于测试烟雾探测芯片的功能板，还包括控制器、开关阵列和FT测试机，控制器分别通讯连接所述功能板和所述FT测试机，控制器与开关阵列的受控端电连接，所述功能板需要连接烟雾探测芯片的引脚分别连接至开关阵列的各个公共端，FT测试机的Handler上的各个探针分别连接至开关阵列的各个接线端。本实用新型利用FT测试机的现有探针结构来实现自由改变与烟雾探测芯片的硬件连接方式，通过开关阵列使功能板的引脚选择性与FT测试机的探针进行连接，从而使功能板完成其相应测试功能，整个测试过程由控制器统筹实现全自动控制，无需工作人员手动插拔，故可避免烟雾探测芯片引脚折弯损坏，实现高速测试的目的。
基本信息
专利标题 ：
一种烟雾探测芯片测试系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201921536390.9
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-09-16
授权号 ：
CN210954244U
授权日 ：
2020-07-07
发明人 ：
文亚东张术利袁俊张亦锋辜诗涛
申请人 ：
上海利扬创芯片测试有限公司
申请人地址 ：
上海市嘉定区永盛路2229号3幢1层、2层
代理机构 ：
东莞市华南专利商标事务所有限公司
代理人 ：
邱岳阳
优先权 ：
CN201921536390.9
主分类号 ：
G01R31/28
IPC分类号 ：
G01R31/28
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试，例如用信号故障寻测器
法律状态
2020-07-07 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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