IC料带检查装置
授权
摘要
本实用新型揭示了一种IC料带检查装置，包括：工作区，供料带遵循预定方向移动；第一灯源，安装于料带上方；第一分光镜，安装于第一灯源上方；第一检测镜头，位于第一分光镜上方且接收第一光线；第二检测镜头，位于第一分光镜侧边且接收第二光线；第二灯源，安装于料带下方；第二分光镜，位于第二灯源上方；以及第三检测镜头，位于第二分光镜侧边，接收第二灯源照射料带所反射的光线。本实用新型的优点在于，本实用新型的装置能同时获得多个照片，以检查料带的密封状况、内部芯片顶面的标记以及料带底部情形。
基本信息
专利标题 ：
IC料带检查装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201921672741.9
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-10-08
授权号 ：
CN210626362U
授权日 ：
2020-05-26
发明人 ：
陆建军
申请人 ：
京隆科技(苏州)有限公司
申请人地址 ：
江苏省苏州市苏州工业园区方洲路183号
代理机构 ：
北京华夏博通专利事务所(普通合伙)
代理人 ：
刘俊
优先权 ：
CN201921672741.9
主分类号 ：
G01N21/89
IPC分类号 ：
G01N21/89 G01N21/95 G01N21/01
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/84
专用于特殊应用的系统
G01N21/88
测试瑕疵、缺陷或污点的存在
G01N21/89
在移动的材料中，例如，纸张、织物中
法律状态
2020-05-26 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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