一种路由器元件老化测试装置
授权
摘要
本实用新型公开了一种路由器元件老化测试装置，包括底座、元件夹持机构和折弯机构，所述元件夹持机构和折弯机构均设在底座的顶部，所述元件夹持机构包括立块，所述立块的底部与底座顶部固定连接，所述立块的右侧开设有调节槽，所述调节槽内设有调节块，所述立块顶部且对应调节槽的位置设有第一丝杆，所述第一丝杆的底端从上至下依次贯穿立块、调节槽和调节块且延伸至调节块的外部。该路由器元件老化测试装置，结构设计合理，使用方便，可进行路由器元件的连续折弯检测，进而确定元件折断的临界点，判定材料所能承受的最大折弯强度和角度，方便对其性能进行准确判断，可满足多方位使用需求。
基本信息
专利标题 ：
一种路由器元件老化测试装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201921703400.3
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-10-12
授权号 ：
CN211318040U
授权日 ：
2020-08-21
发明人 ：
肖日东
申请人 ：
深圳市亘强科技有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市宝安区西乡街道桃源社区林果所恒明珠工业园B栋401
代理机构 ：
代理人 ：
优先权 ：
CN201921703400.3
主分类号 ：
G01N3/20
IPC分类号 ：
G01N3/20 G01N3/04
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N3/18
••在高温或低温下进行试验
G01N3/20
施加稳定的弯曲力
法律状态
2020-08-21 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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