一种晶体硅片检测用固定结构
授权
摘要
本实用新型公开了一种晶体硅片检测用固定结构。本实用新型,包括底座,底座的内部活动安装有圆球,圆球的顶部固定安装有底盘,底盘的内部固定安装有弹簧,弹簧的一端固定安装有限位块,底盘的内部活动安装有圆盘,圆盘的底部固定安装有限位杆。本实用新型,通过旋转螺纹杆,通过螺纹杆在螺纹环内的螺纹作用,将夹块之间的间距调至最大后,再将待检测的晶体硅片放置在圆盘上,随后根据晶体硅片的尺寸,再次通过旋转螺纹杆在螺纹环内部移动,通过夹块内部凹槽再配合夹块的之间的间距对晶体硅片进行固定,利用螺纹配合夹块内部的凹槽对晶体硅片在固定时,满足对晶体硅片固定效果的前提下,更容易掌控固定力度,加强对晶体硅片的保护。
基本信息
专利标题 :
一种晶体硅片检测用固定结构
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201921914275.0
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-11-07
授权号 :
CN211453315U
授权日 :
2020-09-08
发明人 :
秦琴严学井
申请人 :
爱维迅自动化科技(昆山)有限公司
申请人地址 :
江苏省苏州市昆山市玉山镇玉带西路99号A栋202
代理机构 :
苏州铭浩知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
季栋林
优先权 :
CN201921914275.0
主分类号 :
G01N21/01
IPC分类号 :
G01N21/01 G01N21/84
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段,即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/01
便于进行光学测试的装置或仪器
法律状态
2020-09-08 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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