一种功率半导体元件驱动关断功能测试电路
授权
摘要
本实用新型提供一种功率半导体元件驱动关断功能测试电路，所述测试电路中，直流电源负极接地，正极与第一开关的一端连接；第一开关的另一端连接第一电阻的一端和第二开关的一端；第一电阻的另一端连接第三开关的一端和第一极性电容的正极；第三开关的另一端通过电感与第二电阻的一端连接；第二电阻的另一端连接第一二极管的阳极；第一二极管与功率半导体元件的驱动电路并联；第一二极管的阴极连接第二二极管的阳极；直流电源的负极连接第二开关的另一端、第一极性电容的负极和第二二极管的阴极。本实用新型的关断功能测试电路可直接地测试驱动最大关断能力，原理简单且容易实现，实验平台成本低，操作安全，结构需求简单，体积小，成本低。
基本信息
专利标题 ：
一种功率半导体元件驱动关断功能测试电路
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201921932611.4
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-11-08
授权号 ：
CN212159988U
授权日 ：
2020-12-15
发明人 ：
陈政宇曾嵘赵彪余占清刘佳鹏周文鹏尚杰
申请人 ：
清华大学
申请人地址 ：
北京市海淀区清华园1号
代理机构 ：
北京知联天下知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
张陆军
优先权 ：
CN201921932611.4
主分类号 ：
G01R31/26
IPC分类号 ：
G01R31/26 H02M1/06
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/26
•单个半导体器件的测试
法律状态
2020-12-15 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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