半导体元件
授权
摘要

本发明提供一种半导体元件,其包括:一具有开口的介电层;一铜基第一金属层,填满该介电层的该开口并具有一上表面;以及一第一导电性高分子,覆盖该铜基第一金属层的该上表面。本发明还提供一种半导体元件,其包括:一铜基金属层,埋设于一介电层并具有一上表面;一导电性高分子,覆盖该铜基金属层的该上表面;以及一铝基金属垫,设置于该导电性高分子上。该导电性高分子夹置于两金属层间,可作为粘着层,阻障层或活化晶种层。该导电性高分子可包覆铜连线结构以避免铜扩散至其上层,以及增加铜与其上层的附着力。

基本信息
专利标题 :
半导体元件
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN1832159A
申请号 :
CN200510112677.5
公开(公告)日 :
2006-09-13
申请日 :
2005-10-13
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
石健学蔡明兴苏鸿文眭晓林
申请人 :
台湾积体电路制造股份有限公司
申请人地址 :
台湾省新竹科学工业园区新竹市力行六路八号
代理机构 :
北京林达刘知识产权代理事务所
代理人 :
刘新宇
优先权 :
CN200510112677.5
主分类号 :
H01L23/522
IPC分类号 :
H01L23/522  
相关图片
IPC结构图谱
H
H部——电学
H01
基本电气元件
H01L
半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L23/00
半导体或其他固态器件的零部件
H01L23/52
用于在处于工作中的器件内部从一个组件向另一个组件通电的装置
H01L23/522
包含制作在半导体本体上的多层导电的和绝缘的结构的外引互连装置的
法律状态
2008-07-02 :
授权
2006-10-25 :
实质审查的生效
2006-09-13 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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