一种曝光检测装置及夹持架
授权
摘要
本实用新型涉及一种夹持架，其包括基座、支撑杆和支撑块；所述支撑杆垂直固接于所述基座上，所述支撑块的侧面上开设有固定孔，所述支撑块的一端开设有限位孔，所述支撑块套设在所述支撑杆上；所述支撑块的一端端面上竖直开设有竖直槽；所述支撑块的侧面上对应所述竖直槽水平开设有紧固螺纹通孔，所述紧固螺纹通孔配设有紧固螺栓。本实用新型中的支撑块可上下调节并固定,使显示屏上可以显示产品上部或产品下部的像。本实用新型还涉及一种曝光检测装置，其包括显示器、挡光板、夹持架、补光灯和棱镜。本实用新型还可以检测不同幅面大小的产品。
基本信息
专利标题 ：
一种曝光检测装置及夹持架
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201922234371.7
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-12-12
授权号 ：
CN211453389U
授权日 ：
2020-09-08
发明人 ：
张成刚
申请人 ：
上海建立电镀有限公司
申请人地址 ：
上海市金山区亭林镇亭虹路68号
代理机构 ：
代理人 ：
优先权 ：
CN201922234371.7
主分类号 ：
G01N21/88
IPC分类号 ：
G01N21/88 G01N21/01 B07C5/34
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/84
专用于特殊应用的系统
G01N21/88
测试瑕疵、缺陷或污点的存在
法律状态
2020-09-08 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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