存储器的测试方法、存储介质和计算机设备
授权
摘要
本公开提供了一种存储器的测试方法、存储介质和计算机设备。存储器的测试方法包括：获取需要写入多个芯片接口的目标测试式样，多个所述芯片接口与多个物理通信接口一一对应连接；确定与各所述物理通信接口的第一信息分别对应的所述芯片接口的第二信息，并将所述第一信息和所述第二信息作为对应连接信息；对所述对应连接信息进行重映射得到映射连接信息；根据所述目标测试式样与所述映射连接信息确定需要写入所述物理通信接口的初始测试式样。本公开能够提高测试的准确性。
基本信息
专利标题 ：
存储器的测试方法、存储介质和计算机设备
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN113448782A
申请号 ：
CN202010230948.1
公开（公告）日 ：
2021-09-28
申请日 ：
2020-03-27
授权号 ：
CN113448782B
授权日 ：
2022-05-13
发明人 ：
龙光腾何浩陆丹胡波
申请人 ：
长鑫存储技术有限公司
申请人地址 ：
安徽省合肥市经济技术开发区翠微路6号海恒大厦630室
代理机构 ：
北京律智知识产权代理有限公司
代理人 ：
王辉
优先权 ：
CN202010230948.1
主分类号 ：
G06F11/22
IPC分类号 ：
G06F11/22 G06F13/12 G06F13/16 G11C29/10
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算；推算或计数
G06F
电数字数据处理
G06F11/00
错误检测；错误校正；监控
G06F11/22
在准备运算或者在空闲时间期间内，通过测试作故障硬件的检测或定位
法律状态
2022-05-13 ：
授权
2021-10-22 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G06F 11/22
申请日 : 20200327
申请日 : 20200327
2021-09-28 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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