一种RTK轴线放样测量方法
授权
摘要
本发明公开了一种RTK轴线放样测量方法，包括以下步骤：获取控制线上两个控制点的平面坐标，获取控制点之间的坐标距离和方位角；获取放样点的平面坐标，所述放样点位于待放样区域内且位于延长线上，根据所述放样点的平面坐标、所述控制点的平面坐标、所述控制点之间的坐标距离或方位角获取所述放样点与所述控制点的坐标距离、方位角、里程差和偏距。该放样测量方法可以准确快速定位，大大提升RTK直线放样测量的适用范围和能力，从而满足具备直线或大半径短小曲线段这种特殊结构建筑物的放样测量需要。
基本信息
专利标题 ：
一种RTK轴线放样测量方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN111366961A
申请号 ：
CN202010239077.X
公开（公告）日 ：
2020-07-03
申请日 ：
2020-03-30
授权号 ：
CN111366961B
授权日 ：
2022-05-20
发明人 ：
李郴李强樊东博康瑞山李建强
申请人 ：
中铁四局集团第五工程有限公司;中铁四局集团有限公司
申请人地址 ：
江西省九江市青年南路369号
代理机构 ：
合肥天明专利事务所(普通合伙)
代理人 ：
张梦媚
优先权 ：
CN202010239077.X
主分类号 ：
G01S19/43
IPC分类号 ：
G01S19/43 G01C15/02
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01S
无线电定向；无线电导航；采用无线电波测距或测速；采用无线电波的反射或再辐射的定位或存在检测；采用其他波的类似装置
G01S19/23
•••接收机组件的测试、监测、校正或校准
G01S19/38
利用卫星无线电信标定位系统传输的信号来确定导航方案
G01S19/39
传输带有时间戳信息的卫星无线电信标定位系统，例如GPS,GLONASS或GALILEO
G01S19/42
确定位置
G01S19/43
利用载波相位测量法，例如，动态定位；利用长或短基线干涉测量法
法律状态
2022-05-20 ：
授权
2020-07-28 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01S 19/43
申请日 : 20200330
申请日 : 20200330
2020-07-03 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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