一种差分耦合线及其制备方法和损耗测试方法
授权
摘要
本申请公开了一种差分耦合线及其制备方法和损耗测试方法，其中，所述差分耦合线除了信号线之外，还包括两个第一测试线和两个第二测试线，所述第一测试线的一端与所述第一信号线的一端连接，另一端用于连接测试连接器，所述第二测试线的一端与所述第二信号线的一端连接，另一端用于连接测试连接器，且所述第一测试线的阻抗与所述第一信号线的阻抗匹配，所述第二测试线与所述第二信号线的阻抗匹配，使得在对所述差分耦合线进行损耗测试时，可以通过为所述第一测试线和第二测试线连接测试连接器的方式对所述差分耦合线进行损耗测试，解决了现有技术中无法对差分耦合线进行损耗测试的问题。
基本信息
专利标题 ：
一种差分耦合线及其制备方法和损耗测试方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN111458588A
申请号 ：
CN202010303851.9
公开（公告）日 ：
2020-07-28
申请日 ：
2020-04-17
授权号 ：
CN111458588B
授权日 ：
2022-05-31
发明人 ：
羊杨
申请人 ：
恒为科技（上海）股份有限公司
申请人地址 ：
上海市闵行区陈行公路2388号8号楼6楼
代理机构 ：
北京集佳知识产权代理有限公司
代理人 ：
骆宗力
优先权 ：
CN202010303851.9
主分类号 ：
G01R31/00
IPC分类号 ：
G01R31/00 G01R27/02
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/00
电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置；在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66；线路传输系统的测试入H04B3/46）
法律状态
2022-05-31 ：
授权
2020-08-21 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01R 31/00
申请日 : 20200417
申请日 : 20200417
2020-07-28 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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