一种射频测试方法、装置、电子设备及可读存储介质
授权
摘要
本申请提供了一种射频测试方法、装置、电子设备及可读存储介质，其中，所述射频测试方法包括：向待测终端内部的采样电路输入测试电压；在测试电压作用下，监测采样电路在射频测试过程中所输出的电压波形；基于电压波形，检测采样电路是否受到射频干扰；在确定采样电路未受到射频干扰的情况下，测试待测终端的射频参数，并基于射频参数，确定待测终端的射频性能。这样，通过输入测试电压的方式进行测试，在射频测试过程中可以确保待测终端内部的采样电路不受到射频干扰，使测试结果能够准确地反映待测终端的射频性能，从而为待测终端的后续优化提供方向和理论依据。
基本信息
专利标题 ：
一种射频测试方法、装置、电子设备及可读存储介质
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN111614412A
申请号 ：
CN202010435685.8
公开（公告）日 ：
2020-09-01
申请日 ：
2020-05-21
授权号 ：
CN111614412B
授权日 ：
2022-04-15
发明人 ：
臧其甫王建杨威朱旭东陈军
申请人 ：
上海华兴数字科技有限公司
申请人地址 ：
上海市浦东新区川沙新镇川大路318号
代理机构 ：
北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙)
代理人 ：
余菲
优先权 ：
CN202010435685.8
主分类号 ：
H04B17/15
IPC分类号 ：
H04B17/15 H04B17/29
法律状态
2022-04-15 ：
授权
2020-09-25 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : H04B 17/15
申请日 : 20200521
申请日 : 20200521
2020-09-01 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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