一种基于Active Learning的项目内软件老化缺...
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摘要

本发明公开了一种基于Active Learning的项目内软件老化预测方法,通过收集软件中代码静态度量,使用Active Learning挑选出样本进行打标签作为训练集,去预测剩下的无类标的样本。采用Active Learning进行样本挑选和人工打标签,构成训练集。采用过采样和欠采样结合法缓解类不平衡问题,使用机器学习分类器进行预测。本发明考虑了软件老化缺陷数据集样本少,收集比较耗时耗力,采用欠采样和过采样结合的方法缓解极类不平衡问题,有助于开发者在开发测试阶段发现软件老化相关缺陷并移除,避免软件老化问题带来的损失。本发明已在真实软件上验证过其可行性,并可推广至其他软件来预测软件老化相关缺陷。

基本信息
专利标题 :
一种基于Active Learning的项目内软件老化缺陷预测方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN112527670A
申请号 :
CN202011511241.4
公开(公告)日 :
2021-03-19
申请日 :
2020-12-18
授权号 :
CN112527670B
授权日 :
2022-06-03
发明人 :
向剑文梁梦婷李滴萌赵冬冬胡文华李琳
申请人 :
武汉理工大学
申请人地址 :
湖北省武汉市洪山区珞狮路122号
代理机构 :
湖北武汉永嘉专利代理有限公司
代理人 :
张惠玲
优先权 :
CN202011511241.4
主分类号 :
G06F11/36
IPC分类号 :
G06F11/36  G06K9/62  G06N20/10  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算;推算或计数
G06F
电数字数据处理
G06F11/00
错误检测;错误校正;监控
G06F11/36
通过软件的测试或调试防止错误
法律状态
2022-06-03 :
授权
2021-04-06 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G06F 11/36
申请日 : 20201218
2021-03-19 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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