一种用于光电子器件制造的测试夹具
授权
摘要
本实用新型公开了一种用于光电子器件制造的测试夹具,包括测试夹具台，侧边夹板A，侧边夹板B，载物台机构，光电子器件制造的测试夹具上设有测试夹具台，测试夹具台的台面上方两侧边缘对称设有侧边夹板A与侧边夹板B，侧边夹板A与侧边夹板B的之间的底部通过调节螺纹杆A进行连接，在台面的上方中央设有载物台机构，载物台机构通过底部的调节螺纹杆A调控载物台的高低，该测试夹具台设计合理，结构简单，操作方便，可以对不同大小的光电子器件进行夹持固定，提高测试夹具的适用范围。
基本信息
专利标题 ：
一种用于光电子器件制造的测试夹具
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202020210500.9
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-02-25
授权号 ：
CN212301614U
授权日 ：
2021-01-05
发明人 ：
李博白庆雄
申请人 ：
深圳市金彩鸿光电科技有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市宝安区石岩街道龙腾社区西山路4号润腾工业园A2栋三层
代理机构 ：
北京权智天下知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
李海燕
优先权 ：
CN202020210500.9
主分类号 ：
G01R1/04
IPC分类号 ：
G01R1/04
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R1/00
包括在G01R5/00至G01R13/00或G01R31/00组中的各类仪器或装置的零部件
G01R1/02
一般结构零部件
G01R1/04
外壳；支承构件；端子装置
法律状态
2021-01-05 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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