一种低温成膜测定仪
授权
摘要
本实用新型公开了一种低温成膜测定仪，包括机箱、一号温控器和护罩，所述机箱顶部通过安装槽安装有试验板且试验板外表面喷涂有不沾层，所述试验板底部通过螺栓固定有冷却板，所述冷却板和试验板之间通过螺栓固定有加热板且加热板内部通过螺栓固定有电加热管，所述试验板顶部一端设置有刻度尺且试验板顶部另一端通过螺栓固定有护罩，所述机箱一端通过安装座安装有一号温控器且一号温控器一侧通过安装座安装有二号温控器。本实用新型测量精确，且具有良好的防护和防粘连功能，适合被广泛推广和使用。
基本信息
专利标题 ：
一种低温成膜测定仪
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202020285921.8
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-03-10
授权号 ：
CN211627423U
授权日 ：
2020-10-02
发明人 ：
解海旺曹巍巍杨友智
申请人 ：
天津赛威朗仪器设备有限公司
申请人地址 ：
天津市宁河区潘庄工业园区星石科技产业园17号楼A单元
代理机构 ：
代理人 ：
优先权 ：
CN202020285921.8
主分类号 ：
G01N25/02
IPC分类号 ：
G01N25/02
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N25/00
应用热方法测试或分析材料
G01N25/02
通过测试材料的状态或相的变化；通过测试烧结
法律状态
2020-10-02 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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