超声波扫描显微镜检测系统器件定位装置
授权
摘要
本实用新型提供了超声波扫描显微镜检测系统器件定位装置，包括检测平台和耦合介质槽，耦合介质槽内设置与检测平台边缘位置相应的固定点，使检测平台对应固定点放置于耦合介质槽内时，检测平台的中心点与耦合介质槽的中心点重合；检测平台上围绕中心点的位置固定待测塑封电子元器件。本实用新型的检测系统器件定位装置能够将器件准确定位，提高检测速率。
基本信息
专利标题 ：
超声波扫描显微镜检测系统器件定位装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202020542670.7
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-04-13
授权号 ：
CN211978773U
授权日 ：
2020-11-20
发明人 ：
聂延伟宋婉潇杨国牛薛翔夏启飞刘荣辉
申请人 ：
西安西谷微电子有限责任公司
申请人地址 ：
陕西省西安市高新区锦业路69号创业园A区12号现代企业中心东区2-10402
代理机构 ：
北京东灵通专利代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
李思琼
优先权 ：
CN202020542670.7
主分类号 ：
G01N29/26
IPC分类号 ：
G01N29/26 G01N29/28
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N29/00
利用超声波、声波或次声波来测试或分析材料；靠发射超声波或声波通过物体得到物体内部的显像
G01N29/22
零部件
G01N29/26
用于定位或扫描的结构
法律状态
2020-11-20 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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