一种LED灯生产老化测试装置
授权
摘要
本实用新型公开了一种LED灯生产老化测试装置，包括用于LED灯测试升温的升温机构、测试机构、支撑板、控制器、温度传感器,所述升温机构设置在所述测试机构顶部，所述测试机构内部设置有所述支撑板，所述测试机构一侧设置有所述温度传感器，所述测试机构另一侧设置有所述控制器，还包括用于固定LED灯的固定机构。本实用新型利用加热管和风扇来调整整个测试箱内的温度，通过控制器和温度传感器来对测试箱内温度进行检测和设定，进而可以对LED灯进行老化性测试，通过第一固定杆、固定板和弹簧可以快速的将多个LED灯进行并联，继而提高测试的效率和速度减少测试时连接LED灯接线的繁琐步骤。
基本信息
专利标题 ：
一种LED灯生产老化测试装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202020558235.3
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-04-15
授权号 ：
CN212514936U
授权日 ：
2021-02-09
发明人 ：
蔡天平
申请人 ：
漳浦比速光电科技有限公司
申请人地址 ：
福建省漳州市漳浦县绥安工业开发区绥安工业园
代理机构 ：
代理人 ：
优先权 ：
CN202020558235.3
主分类号 ：
G01R31/44
IPC分类号 ：
G01R31/44
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/44
•测试灯
法律状态
2021-02-09 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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