本实用新型涉及治具技术领域，且公开了一种芯片检测治具，包括治具本体和检测装置，治具本体包括外壳、轴承一和转柱，外壳的左内壁上设置有轴承一，轴承一的外圈与外壳固定连接，轴承一的内圈固定连接有转柱，转柱的外侧套接有转盘，转盘的右表面上开设有转孔，转柱的右端穿过转孔，转孔与转柱适配，转柱的外侧与转孔固定连接，外壳的右内壁上开设有电机孔，电机孔与转柱正对，电机孔的内部固定连接有电机一，电机一的输出轴固定连接转柱，转盘的外侧固定连接有连接柱，外壳的右内壁下方固定连接有电机二，电机二的输出轴固定连接拉钩，拉钩在远离电机二的那一端设置有轴承二，该芯片检测治具具备准确和效率高等优点。