一种半导体检测用四探针
专利权的终止
摘要

本实用新型公开了一种半导体检测用四探针,包括检测仪本体,所述检测仪本体的背面固定连接有收纳盒,所述收纳盒背面的顶部和底部均固定连接有夹持夹,所述夹持夹的内腔夹持有探针,所述探针的顶部固定连接有导线,所述导线远离探针的一端贯穿至收纳盒的内腔,所述收纳盒内腔背面的轴心处固定连接有马达,所述马达的输出轴固定连接有挡板,所述挡板的前端固定连接有导电柱,所述导电柱的表面与导线固定连接。本实用新型通过收纳盒、夹持夹、探针、导线、马达、挡板、导电柱、通电块、控制按钮和开口的配合使用,能够对散落的导线进行收纳,使其不会造成缠绕凌乱的现象,给检测工作带来了极大的便利。

基本信息
专利标题 :
一种半导体检测用四探针
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202020725278.6
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-05-07
授权号 :
CN212483756U
授权日 :
2021-02-05
发明人 :
孙铭
申请人 :
眉山国芯科技有限公司
申请人地址 :
四川省眉山市眉山经济开发区新区
代理机构 :
深圳峰诚志合知识产权代理有限公司
代理人 :
赵爱婷
优先权 :
CN202020725278.6
主分类号 :
G01R31/26
IPC分类号 :
G01R31/26  G01R1/073  G01R1/02  G01R1/04  H01L21/66  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/26
•单个半导体器件的测试
法律状态
2022-04-15 :
专利权的终止
未缴年费专利权终止IPC(主分类) : G01R 31/26
申请日 : 20200507
授权公告日 : 20210205
终止日期 : 20210507
2021-02-05 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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