一种仪表老化测试柜
授权
摘要
本实用新型涉及一种仪表老化测试柜，具有供电切换电路；所述供电切换电路包括供电输入端、变压单元、切换单元和供电输出端，所述供电输出端用于连接待测仪表，以向其提供变电压测试环境。本实用新型的仪表老化测试柜，可向待测仪表稳定地输出三种供电电压，拓宽其测试范围，从而可以得到可靠的测试结果；此外，供电切换电路通过引入中间继电器实现了三路接触器的电气互锁，保证了供电切换电路的供电安全，防止在测试过程损坏待测仪表。
基本信息
专利标题 ：
一种仪表老化测试柜
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202020758602.4
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-05-09
授权号 ：
CN212229071U
授权日 ：
2020-12-25
发明人 ：
蒋艳芳
申请人 ：
厦门宇电自动化科技有限公司
申请人地址 ：
福建省厦门市火炬高新区火炬园火炬北路17号
代理机构 ：
厦门龙格思汇知识产权代理有限公司
代理人 ：
林显木
优先权 ：
CN202020758602.4
主分类号 ：
G01R31/00
IPC分类号 ：
G01R31/00 G01R1/04 G01R19/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/00
电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置；在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66；线路传输系统的测试入H04B3/46）
法律状态
2020-12-25 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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