一种分层测试探针模具及分层测试设备
授权
摘要

本实用新型提供一种分层测试探针模具及分层测试设备,所述分层测试探针模具包括了测试底座、上盖部、第一测试模块和第二测试模块,包括底座、上盖部、第一测试模块和第二测试模块,上盖部包括翻盖针板和预压块,底座顶部设有第一放置槽和第二放置槽,所述第一测试模块设置在所述翻盖针板上且与所述第一放置槽位置相对应,第二测试模块设置于第二放置槽上且与预压块位置相对应。第一测试模块与第二测试模块分别设置在上盖板与测试底板上,使第一测试模块与第二测试模块集成在一个模具上且互不干扰,实现了同时对产品两个相关联的功能进行测试,测试操作简单,提高了测试效率。

基本信息
专利标题 :
一种分层测试探针模具及分层测试设备
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202021005468.7
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-06-04
授权号 :
CN212965026U
授权日 :
2021-04-13
发明人 :
黄庆云
申请人 :
深圳市振云精密测试设备有限公司
申请人地址 :
广东省深圳市宝安区西乡街道龙珠社区107国道润东晟工业区13栋2层13栋1层B、13栋5层B、8栋1层
代理机构 :
深圳市龙成联合专利代理有限公司
代理人 :
陈丽燕
优先权 :
CN202021005468.7
主分类号 :
G01R1/04
IPC分类号 :
G01R1/04  G01R31/00  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R1/00
包括在G01R5/00至G01R13/00或G01R31/00组中的各类仪器或装置的零部件
G01R1/02
一般结构零部件
G01R1/04
外壳;支承构件;端子装置
法律状态
2021-04-13 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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