一种卡包插卡老化测试装置

授权

摘要

本实用新型公开了一种卡包插卡老化测试装置，包括测试台，固定安装在测试台上端的卡包固定装置和插卡测试装置，该卡包固定装置包括支架，定位板和夹持件，该支架上端固定安装有定位板，该定位板上端面的两侧固定安装有夹持件，所述插卡测试装置包括横移滑轨，纵移滑轨，支撑板，旋转电机，旋转固定架，旋转气缸，加装组件和测试插卡，本实用新型通过控制测试插卡的位置，并与卡包固定装置上的卡包进行插卡动作，重复指定次数后检测卡包的耐老化性能，使卡包的实用性和耐用性得到统一测试的同时，方便检测这可以用肉眼直接观测出检测效果，保证了产品的质量，维护了消费者的利益。

基本信息

专利标题：

一种卡包插卡老化测试装置

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN202021005594.2

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2020-06-04

授权号：

CN212779873U

授权日：

2021-03-23

发明人：

李会东

申请人：

苏州上良自动化设备有限公司

申请人地址：

江苏省苏州市吴江区松陵镇友谊工业区

代理机构：

苏州企航知识产权代理事务所(普通合伙)

代理人：

王丹

优先权：

CN202021005594.2

主分类号：

G01M13/00

IPC分类号：

G01M13/00