本实用新型涉及遮覆板高度量测技术领域，具体地说，涉及半导体遮覆板高度量测平台，包括测量平台，测量平台上表面中心位置开设有凹槽，测量平台两侧中心位置对称设有立柱，每个立柱的侧面上均设有刻度值，两个立柱顶部通过横梁连接，横梁上表面中心安装有电动伸缩杆，电动伸缩杆的活动臂贯穿横梁，且末端上设有量测卡板，T型槽上方设有夹板，T型块左侧面上还设有弹簧，活动板下表面中心位置设有凸块；该半导体遮覆板高度量测平台，活动板上配合夹板，在弹簧作用下能够紧密夹固不同大小的半导体遮覆板，让测量更稳定，电动伸缩杆配合量测卡板在立柱上移动，指针对应刻度值，便于使用者快速读取量测半导体遮覆板高度值。