一种芯片电容器检测设备
授权
摘要
本实用新型属于芯片电容器测试领域，具体涉及一种芯片电容器检测设备，包括用于芯片电容器上料的上料装置，用于检测芯片电容器电性能的电性能检测装置，用于收纳电性能不良品的电性能不良品料盘，用于测试芯片电容器外观的外观检测装置，用于收纳传送检测合格的芯片电容器的合格品下料装置，用于收纳外观不良品的外观不良料盘，用于吸附抓取芯片电容器，并转动变换芯片电容器的工位的转盘传送装置；其中，上料装置、电性能检测装置、电性能不良品料盘、外观检测装置、合格品下料装置、外观不良料盘成圆形依次排列在转盘传送装置的外侧。
基本信息
专利标题 ：
一种芯片电容器检测设备
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202021607774.8
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-08-05
授权号 ：
CN212652205U
授权日 ：
2021-03-05
发明人 ：
吴浩谢华车瑞飞辛广兴陈松磨
申请人 ：
广州创天电子科技有限公司
申请人地址 ：
广东省广州市黄埔区来安一街8号之一
代理机构 ：
深圳市道臻知识产权代理有限公司
代理人 ：
朱亚
优先权 ：
CN202021607774.8
主分类号 ：
B07C5/02
IPC分类号 ：
B07C5/02 B07C5/34 B07C5/344 B07C5/36 B07C5/38
IPC结构图谱
B
B部——作业；运输
B07
将固体从固体中分离；分选
B07C
邮件分拣；单件物品的分选，或适于一件一件地分选的散装材料的分选，如拣选
B07C5/00
按照物品或材料的特性或特点分选，例如用检测或测量这些特性或特点的装置进行控制；用手动装置，例如开关，来分选
B07C5/02
分选前的措施，例如在流水线中排列物体，定方位
法律状态
2021-03-05 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
暂无PDF文件可下载
