一种张力计老化测试装置

授权

摘要

本实用新型公开了一种张力计老化测试装置，包括：立板、升降气缸、固定板和多个夹紧件；所述立板为冂形竖直设立，所述立板两侧设有支撑柱，支撑柱之间设有横梁连接；所述升降气缸固定在立板的横梁上用于驱动固定板；所述固定板横置与横梁平行；所述多个夹紧件固定在固定板上，夹紧件沿固定板方向均匀分布，所述夹紧件用于可拆卸固定张力计；其中，所述升降气缸包括缸筒组件和活塞杆组件，所述缸筒组件和活塞杆组件滑动连接，所述缸筒组件固定在立板的横梁上，所述活塞杆组件可相对于缸筒做竖直运动，所述固定板与活塞杆组件固定连接，所述固定板与活塞杆组件同步运动。

基本信息

专利标题：

一种张力计老化测试装置

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN202021810147.4

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2020-08-26

授权号：

CN212963825U

授权日：

2021-04-13

发明人：

蔡瑞周丽云

申请人：

深圳市索恩达电子有限公司

申请人地址：

广东省深圳市宝安区航城街道黄田社区广宇工业园1栋2层、三栋一层之一

代理机构：

深圳金伟创新专利代理事务所(普通合伙)

代理人：

李靓

优先权：

CN202021810147.4

主分类号：

G01L25/00

IPC分类号：

G01L25/00