小批量探测器加电老化测试装置
授权
摘要
本实用新型公开了一种小批量探测器加电老化测试装置，其包括：相互配合设置的第一印刷电路板和第二印刷电路板，所述第一印刷电路板上设置有多个第一正极接口和多个第一负极接口，所述第二印刷电路板上设置有多个第二正极接口和多个第二负极接口，每一所述第二正极接口还与一第一正极接口电连接，每一所述第二负极接口还与一第一负极接口电连接。本实用新型提供的小批量探测器加电老化测试装置，在进行老化处理和测试时只需使用一路直流电源即可使得所有探测器加电老化，老化结束后又可以独立对每一探测器进行老化测试，从而可以解决小批量探测器加电老化和老化后测试冲突问题，极大的降低了测试成本。
基本信息
专利标题 ：
小批量探测器加电老化测试装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202022122408.X
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-09-24
授权号 ：
CN212872718U
授权日 ：
2021-04-02
发明人 ：
黄寓洋
申请人 ：
苏州苏纳光电有限公司
申请人地址 ：
江苏省苏州市吴中区工业园区星湖街218号生物纳米园A4楼109C单元
代理机构 ：
南京利丰知识产权代理事务所(特殊普通合伙)
代理人 ：
赵世发
优先权 ：
CN202022122408.X
主分类号 ：
G01R31/00
IPC分类号 ：
G01R31/00 G01R31/26
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/00
电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置；在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66；线路传输系统的测试入H04B3/46）
法律状态
2021-04-02 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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