本实用新型公开了一种多路并行老化测试装置，包括外壳，所述外壳上表面并排设有若干弹簧压紧限位结构，弹簧压紧限位结构内部设有用于测试的制冷片，所述每个弹簧压紧限位结构旁设有接线座，所述外壳侧面设有开关、计时器和蜂鸣器，外壳内部设有控制器。上述技术方案通过装有计时器、蜂鸣器直观及时判断待测制冷片是否达到使用寿命，实现多枚半导体制冷片同时老化检测，检测效率高，且使用半导体制冷片弹簧压紧限位结构进行测试，测试可靠性高。