光学测量设备和信息处理系统
公开
摘要
本发明在抑制尺寸增加的同时实现多色分析。根据实施例的光学测量设备包括：激发光源(101至103)，发射激发光；波导光学系统(111、112、113、114、115)，将激发光沿着预定光路引导至预定位置；荧光检测系统(140)，检测通过由激发光激发存在于预定位置的粒子而从粒子辐射出的荧光；和第一散射光检测系统(130)，检测由存在于预定位置的粒子散射激发光而生成的第一散射光。波导光学系统包括分离光学系统(115)，该分离光学系统分离在预定方向上从流道上的预定位置发出的光中的荧光和第一散射光。荧光检测系统检测由分离光学系统分离出的荧光，并且第一散射光检测系统检测由分离光学系统分离出的第一散射光。
基本信息
专利标题 ：
光学测量设备和信息处理系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114616454A
申请号 ：
CN202080075343.8
公开（公告）日 ：
2022-06-10
申请日 ：
2020-10-23
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
喜田晃二
申请人 ：
索尼集团公司
申请人地址 ：
日本东京
代理机构 ：
北京康信知识产权代理有限责任公司
代理人 ：
余刚
优先权 ：
CN202080075343.8
主分类号 ：
G01N15/14
IPC分类号 ：
G01N15/14 G01N21/49 G01N21/64
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N15/00
测试颗粒的特性；测试多孔材料的渗透性，孔隙体积或者孔隙表面积
G01N15/10
测试单个颗粒
G01N15/14
电光测试
法律状态
2022-06-10 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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