一种面板缺陷检查方法、系统、终端设备及存储介质
授权
摘要
本申请适用于缺陷检查技术领域，提供了一种面板缺陷检查方法、系统、终端设备及存储介质。本申请实施例中获取目标面板的面板图片，根据所述目标面板的型号对所述面板图片进行截取操作；根据预设的图像处理方法对截取后的面板图片进行判定，得到所述目标面板的判定结果；当所述判定结果中存在破片部分时，对所述目标面板进行拦截操作，以使检查人员对所述目标面板进行复判，从而提高了对存在缺陷面板的检测效率。
基本信息
专利标题 ：
一种面板缺陷检查方法、系统、终端设备及存储介质
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN113012137A
申请号 ：
CN202110314034.8
公开（公告）日 ：
2021-06-22
申请日 ：
2021-03-24
授权号 ：
CN113012137B
授权日 ：
2022-05-10
发明人 ：
黄雪思何承洁曲斯瑞余思慧
申请人 ：
滁州惠科光电科技有限公司;惠科股份有限公司
申请人地址 ：
安徽省滁州市经济技术开发区苏滁大道101号
代理机构 ：
深圳中一专利商标事务所
代理人 ：
曹小翠
优先权 ：
CN202110314034.8
主分类号 ：
G06T7/00
IPC分类号 ：
G06T7/00 G06T7/136 G06T7/155 G06T5/00
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算；推算或计数
G06T
一般的图像数据处理或产生
G06T7/00
图像分析
法律状态
2022-05-10 ：
授权
2021-07-09 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G06T 7/00
申请日 : 20210324
申请日 : 20210324
2021-06-22 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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