通用的CT对轴方法
授权
摘要
本发明提供了一种通用的CT对轴方法，包括以下步骤：在三个旋转角度位置对定位点成像；根据成像几何关系，计算定位点相对旋转轴的位置并将所述定位点移动到旋转轴正上方。
基本信息
专利标题 ：
通用的CT对轴方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN113029053A
申请号 ：
CN202110375284.2
公开（公告）日 ：
2021-06-25
申请日 ：
2021-04-06
授权号 ：
CN113029053B
授权日 ：
2022-05-13
发明人 ：
吴朝关勇刘刚田扬超陈亮
申请人 ：
中国科学技术大学
申请人地址 ：
安徽省合肥市包河区金寨路96号
代理机构 ：
中科专利商标代理有限责任公司
代理人 ：
孙蕾
优先权 ：
CN202110375284.2
主分类号 ：
G01B15/04
IPC分类号 ：
G01B15/04 G01N23/046
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B15/00
以采用波或粒子辐射为特征的计量设备
G01B15/04
用于计量轮廓或曲率
法律状态
2022-05-13 ：
授权
2021-07-13 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01B 15/04
申请日 : 20210406
申请日 : 20210406
2021-06-25 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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