本发明提出了一种提升ATE设备芯片测试速度的方法、装置，适用于包括主控板、背板和业务板的系统中，主控板上配置有测试程序；获取待加速数据；测试程序根据待加速数据在预设的重构区逻辑库中选取相应的加速逻辑，选取空闲可重构区信息，构成重构指令；通过背板将重构指令由主控板传递至业务板；FPGA解析重构指令，预设的重构控制器根据空闲可重构区信息查找空闲可重构区，将加速逻辑配置重构到空闲可重构区，得到加速逻辑区；通过加速逻辑区处理待加速数据，获取加速计算结果并发送至测试程序。本发明利用FPGA动态局部重构功能来实现对空闲状态的逻辑资源的使用，未增加额外的硬件成本即可实现待加速数据的处理，提升了芯片测试的速度。